nuclei vim afm microscopii
Vis atomica Microscopium (AFM), instrumentum analyticum, quod ad structuram superficierum materiarum solidarum, inter insulatores, investigandam adhiberi potest.Superficies structuram ac proprietates substantiae studet, detegendo valde debilem interatomicum commercium inter superficiem specimen probandi et elementum sensitivum parvarum vis.Vis infirmae par erit finis valde sensibilis micro-cantilever fixus, alter extremitas minimae extremitatis proximae exempli, tunc cum ea correspondet, vis deformatio vel motus status mutationes micro-cantilever faciet.Cum perscrutans specimen, ad has mutationes deprehendendas adhiberi potest sensor, distributio notitiarum virium accipere possumus, ut morphologiam superficiei informationis nano-resolutionis et asperitatis superficiei notitiarum consequamur.
★ Integrated intuens specillum et specimen cervus anti- impedimenti facultatem auxit.
★ Subtilitas laseris et speculandi positionis artificium mutans specillum et accommodans maculam simplicem et convenientem.
★ Utendo specillo specillo modo appropinquante, acus perpendicularis ad specimen intuens potuit.
★ Automatic pulsus motricium coegi potestate specimen specillum verticalis appropinquantis, ut accuratam positionem area scanning consequi.
★ Sample intuens area usurarum libere movebatur utendo consilio praecipuae subtilitatis specimen mobilem machinam.
★ CCD systema observationis cum positione optica reali temporis observatione attingit ac positione speciminis speciminis scan area.
Consilium systematis electronici moderandi modularisationum facilior est sustentatio et continua emendatio circuitionis.
★ Integratio multiplex perscrutans modum temperantiae ambitum, cum systemate programmate cooperatur.
★ Veris suspensio quae simplex et practica augetur anti-impedimenti facultatem.
| Opus modus | FM-Tapping, contactus ad libitum, friction, phase, magneticus vel electrostatic |
| Magnitudo | Φ≤90mm,H≤20mm |
| Scanningrange | 20 mmin XYdirection,2 mm in Z partem. |
| Scanningresolution | 0.2nm in XY directionem,0.05nm in Z directionem |
| Movementrange specimen | ±6.5mm |
| of the motricium pulsum pulsum appropinquat | 10±2ms |
| Sampling imago punctum | 256× 256,512×512 |
| Optical magnificatio | 4X |
| Resolutio optical | 2.5 mm |
| Scan rate | 0.6Hz~4.34Hz |
| Scan angulus | 0°~ 360° |
| Scanning control | XVIII-bit D / A in XY directionem,XVI frenum D / A in Z directionem |
| Data sampling | 14-bitA / D,double16-bit A/D multi-alvei synchroni sampling |
| Commentarium | DSP digital feedback |
| Sampling feedback rate | 64.0KHz |
| Computatrum interface | USB2.0 |
| Operans environment | Windows98/2000/XP/7/8 |